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第二届 CJK （中日韩）会议于 2006 年 3 月 30 日 至 31 日在日本庆应大学湘南县校区举行。 CJK 会议是由 Auto-ID 中国实验室主 任闵昊 教授、 Auto-ID 日本实验室主任村 井纯 教授、 Auto-ID 韩国实验室 Sang-Gug Lee 教授发起的一项旨在推动三个 Auto-ID 实验室学术和技术交流的活动。 CJK 会议每 4 个月举行一次，分别在三个国家轮流举办。第一届 CJK 会议于去年 11 月 10 ～ 11 日在复旦大学举行。 在本次日本 CJK 会议上，与以往不同的是，除了实验室的主任和研究人员参加以外，来自三个实验室的超过 15 名博士和硕士研究生也参加了会议并对自己的研究工作做了详细的介绍。本次会议涉及的研究领域包括 RFID 硬件， RFID 应用和传感器网络等等。与会代表就各个研究课题纷纷发表自己的见解，并进行了广泛的交流与讨论。剑桥大学 Auto-ID 实验室主任 Duncan McFarlane 出席了为期两天的会议，并就 RFID 在航空部件管理方面的应用做了介绍。 会后，中日韩 3 个 Auto-ID 实验室主任签署了一份谅解备忘录。根据该备忘录，三个实验室确定将定期召开学术会议，交换学生和研究人员，针对共同感兴趣的合作课题进行联合研究，尊重并保护各自的知识产权。下一届 CJK 会议将于 2006 年 7 月在韩国信息与通信大学（ ICU ）举行。
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